歡迎來(lái)到東莞市德祥儀器有限公司！
13650315209歡迎來(lái)到東莞市德祥儀器有限公司！
13650315209
產(chǎn)品展示/ PRODUCTS PLAY
產(chǎn)品分類(lèi) / PRODUCT
相關(guān)文章 / ARTICLE
2025-05-23
2023-07-26
2023-08-09
2024-06-26
2023-08-08
描述：HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱主要應(yīng)用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的惡劣環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過(guò)這種測(cè)試方法，可以在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命，從而避免在產(chǎn)品投放市場(chǎng)后出現(xiàn)潛在問(wèn)題。以一定的時(shí)間間隔進(jìn)行加熱和加濕，模擬長(zhǎng)時(shí)間使用后的可能問(wèn)題。通過(guò)這種模擬惡劣環(huán)境的測(cè)試方法，可以快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性。
產(chǎn)品型號(hào)：DX-HAST350G廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-11-19訪(fǎng)問(wèn)量：947
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | 德祥儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合 | 溫度范圍 | +100℃～+147℃ |
| 濕度范圍 | 70%~100% | 濕度控制穩(wěn)定度? | ±3%RH |
| 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) | 壓力波動(dòng)均勻度? | ±0.1Kg |
HAST非飽和加速壽命試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
自動(dòng)門(mén)禁，圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制，安全門(mén)把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。
圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
實(shí)驗(yàn)開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。
臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。
精密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式不同，可延長(zhǎng)packing壽命。
圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
hast非飽和加速試驗(yàn)箱適用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
JESD22-A102 無(wú)偏壓高壓蒸煮試驗(yàn) 封裝IC（芯片）
JESD22-A110-E 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗(yàn)
IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗(yàn)-濕熱試驗(yàn) 太陽(yáng)能光伏組件 減少試驗(yàn)時(shí)間
HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技術(shù)，主要應(yīng)用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過(guò)這種測(cè)試方法，可以在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命，從而避免在產(chǎn)品投放市場(chǎng)后出現(xiàn)潛在問(wèn)題。
HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱的工作原理是將待測(cè)芯片置于高溫高濕的環(huán)境中，以一定的時(shí)間間隔進(jìn)行加熱和加濕，模擬長(zhǎng)時(shí)間使用后的可能問(wèn)題。通過(guò)這種模擬環(huán)境的測(cè)試方法，可以快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和耐用性。
在具體操作中，HAST濕熱壽命老化箱的時(shí)間范圍可調(diào)，可以在0小時(shí)至999小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。這種靈活性使得測(cè)試人員可以根據(jù)具體需求和產(chǎn)品特性設(shè)置合適的測(cè)試時(shí)間，從而更好地評(píng)估產(chǎn)品的性能和可靠性。
HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的濕度分布均度控制在±3%RH，確保每個(gè)測(cè)試樣本都能得到一致的測(cè)試條件。這種均度控制對(duì)于準(zhǔn)確評(píng)估產(chǎn)品的性能和可靠性至關(guān)重要。
HAST穩(wěn)態(tài)濕熱老化箱作為一種主流的加速老化測(cè)試技術(shù)，為提升產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性提供了有效的手段。通過(guò)模擬環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境，可以在短時(shí)間內(nèi)快速發(fā)現(xiàn)芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而及早采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。此外，HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的靈活性和均度控制使得測(cè)試人員可以根據(jù)具體需求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全面評(píng)估，確保產(chǎn)品的性能和可靠性達(dá)到預(yù)期水平。
需要注意的是，雖然HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱可以模擬環(huán)境，但并不能代表實(shí)際使用的所有情況。因此，在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中，除了使用HAST濕熱壽命老化箱進(jìn)行加速老化測(cè)試外，還應(yīng)結(jié)合實(shí)際情況和其他測(cè)試方法，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行多角度、的評(píng)估，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性達(dá)到水平。
在未來(lái)的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中，質(zhì)量和可靠性將成為越來(lái)越重要的考量因素。而HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱作為一種主流的加速老化測(cè)試技術(shù)，將在提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性方面發(fā)揮更加重要的作用。
拿起手機(jī)掃一掃
地址：廣東東莞市洪梅鎮(zhèn)疏港大道3號(hào)1號(hào)樓113室
郵箱：caiwu5209@dingtalk.com
聯(lián)系人：樊華Copyright © 2025東莞市德祥儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào)：粵ICP備2022155405號(hào)
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
我的位置：
留言詢(xún)價(jià)
上一篇：
在線(xiàn)咨詢(xún)
返回頂部